仪器简介：功能：台阶高度、粗糙度、波纹度、翘曲度、磨损度、薄膜应力等多种表面形貌测量及分析。低测定力模式不仅能够避免划伤样品，也能对于软性样品进行测试，适合于各类晶片、薄膜、涂层、MEMS、平板显示等领域的表面测量。优势：采用了Kosaka独有的直动式台阶测量方式，有效避免了传统杠杆式台阶仪所带来的圆弧误差。
2022-01-07 【花都区检验检测常见问题】 Tags： 花都区分析仪器 花都区物性分析 花都区台阶仪
仪器简介：功能：快速、可靠地测量大部分半透明或具有轻微吸收性的薄膜材料厚度、光学常数、表面粗糙度。优势： 实时测量和分析各种多层次的、薄的、厚的，独立的和不均匀的层。丰富的材料库 (500多种材料)，可支持参数化材料：Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA 等。操作软件支持一键式测量和分析，仿真和灵敏度分析
2022-01-07 【花都区检验检测常见问题】 Tags： 花都区分析仪器 花都区物性分析 花都区薄膜测厚仪
仪器简介：功能：AFM常用于测量样品表面纳米级形貌结构及表面粗糙度信息，同时配置KPFM、PeakForce QNM等特殊的功能模块，可获取材料纳米尺度的杨氏模量、粘滞力、压电特性、摩擦系数、表面磁畴、电荷、电势的分布图。优势：Dimension FastScan是世界上扫描速度最快的原子力显微镜，在保证最高分辨和最优异的仪器检测性能的
2022-01-07 【花都区检验检测常见问题】 Tags： 花都区分析仪器 花都区物性分析 花都区扫描探针显微镜 花都区探针显微镜
仪器简介：功能特点：去除碳氢化合物对TEM和SEM样本载台或样品的污染，以增强样品的成像能力（低电压），提高化学微量分析时的精度。优势：不需要其他的原料，只要空气就能够满足要求，使用方便而且没有污染。主要技术参数：1.功率：5 - 99 W连续可调等离子功率。2.压力：-2 Torr – 5 mTorr。应用领域：仪器广泛应用于除去
2022-01-07 【花都区检验检测常见问题】 Tags： 花都区分析仪器 花都区微区分析 花都区等离子清洗仪 花都区清洗仪
仪器简介：功能特点：金属、陶瓷等耐离子束样品的减薄、清洁、抛光、切割。优势：操作简便，高效处理样品，安全。主要技术参数：1.两把非聚焦型的鞍型场枪，可对样品的大面积区域进行离子抛光或减薄。2.离子束加速电压调节范围：0.8 kV - 10 kV（0.1 keV每步）；离子束流：最大4.5mA。3.样品台倾斜范围：-120°至210°（精确
2022-01-07 【花都区检验检测常见问题】 Tags： 花都区分析仪器 花都区微区分析 花都区多功能离子减薄仪 花都区离子减薄仪
仪器简介：功能特点：可半薄和超薄切片，以及样品表面光滑处理，为透射电镜、扫描电镜、原子力显微镜和光镜检验生物和工业样品提供服务。优势：可以轻易地完成常温/冷冻的超薄切片工作，操作方便。主要技术参数：1.样品臂步进厚度：1 - 100 nm，步进1 nm，旋钮调节；100 - 1000 nm，步进10 nm，旋钮调节；1000 - 2500 nm，步
2022-01-07 【花都区检验检测常见问题】 Tags： 花都区分析仪器 花都区微区分析 花都区冷冻超薄切片机 花都区切片机
仪器简介：功能特点：可在低真空下观察成分像、阴影像和凹凸像。样品室空气压力大于5Pa，可实现对不导电样品的无喷涂观察。优势：快速抽真空，操作简便，快速得到图像。主要技术参数：1.放大倍率：低倍模式 15 – 60 k。2.钨灯丝电子枪加速电压：15 kV、 5 kV。3.手动样品台样品台可移动范围：X: ±17.5 mm；Y: ±17.5 mm。
2022-01-07 【花都区检验检测常见问题】 Tags： 花都区分析仪器 花都区微区分析 花都区台式扫描电子显微镜 花都区电子显微镜
仪器简介：功能特点：FIB-SEM双束电镜不但能进行超高分辨的扫描电镜观察，也能利用FIB对试样进行切割、加工、沉积，从事内部和截面观察及全静态三维表征，以及特定图形加工工作。高性能X射线能谱仪，支持点、线及面上的元素扫描，能准确分析样品的元素分布。优势：超高的FIB分辨率可以进行精确的试样加工，尤其适合进行制定
2022-01-07 【花都区检验检测常见问题】 Tags： 花都区分析仪器 花都区微区分析 花都区聚焦离子束 花都区场发射扫描 花都区电子显微镜
仪器简介：功能特点：SEM主要用于固态样品表面形貌的二次电子像、背散射电子像观察及图像处理。它既可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在微米、纳米级样品的表面特征，配备的EDS也可以支持点、线及面上的元素扫描，能准确分析样品的元素分布。。优势：SU8220冷场扫描电镜采用全新设计的冷场发射电子枪大幅提高了探针
2022-01-07 【花都区检验检测常见问题】 Tags： 花都区分析仪器 花都区微区分析 花都区场发射扫描电子显微镜 花都区电子显微镜
仪器简介：功能特点：TEM用于观察样品内部组织形貌，特别适用于对纳米级样品的观测；具有结构相的样品，能在高倍数下观测到晶格条纹。其中，STEM综合扫描和普通透射电子分析的特点，可以观察较厚的试样和低衬度的试样，得到原子序数衬度像。EDS支持点、线及面上的元素扫描，能准确分析样品的元素分布。优势：FEI Talos F200
2022-01-07 【花都区检验检测常见问题】 Tags： 花都区分析仪器 花都区微区分析 花都区场发射透射电子显微镜
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